钽电容测试方法
本文是标准的钽电容测试方法介绍:
1. 适用范围
本规范适用于AVX、KEMET等品牌片式固定钽电容器标准品系列。
2. 参考文献
EIA Standard 535BAAC-A Fixed Tantalum Chip Capacitor Style 1 Proteced(molded)
GJB 2283-95 有可靠性指标的片式固体电解电容质钽电容器详细规范
GJB 360A-96 电子及电气元件试验方法
IEC384-3-1 Test Methods for Environmental Testing
3. 详细规格参数
请参考相应钽电容产品的规格书
4. 检验方法和标准
下表所提室温是指25±5℃,在没有特别说明的情况下,空气湿度为45~75%,大气压为86~106kPa。
测试项目 | 测试仪器 | 测试条件、方法、步骤、判定标准 |
钽电容电容值 | HP4263B或同等电容测试仪 | 测试频率120赫兹,测试电压0.5V,常温下旋转2小时以上,钽电容电容值在K档或M范围内 |
钽电容损耗角 | HP4263B或同等电容测试仪 | 测试频率120赫兹,测试电压0.5V,常温下旋转2小时以上,DF上限值请参考相应钽电容产品的规格书 |
等效串联电阻 | HP4263B或同等ESR测试仪 | 测试频率100赫兹,ESR值请参考相应钽电容产品的规格书 |
漏电流 | TH2868或同等漏电流测试仪 |
1、在室温下加直流额定电压,充电时间最长为5分钟; 2、电流值随着时间下降到某一终值时达到较稳定状态时,记录该电流值 |
浪涌电压 | 可调直流稳压电源 |
1、测试电压为额定电压的1.3倍,充电电流限制5mA以下; 2、进行充放电试验1000次(充电30秒,放电5分30秒)常温下放置2小时后测试; 3、试验前后电容值变化率在正负15%以内; 4、试验后损耗角值不大于初始标准值 的150%; 5、试验后的产品应废弃,即使电气参数完全符合标准值; |